Khoa học công nghệ ngành Công Thương

Thứ ba, 25/01/2022 | 18:44

Thứ ba, 25/01/2022 | 18:44

Kết quả nhiệm vụ KHCN

Cập nhật lúc 08:45 ngày 14/01/2022

Tối ưu hóa đa biến các thông số đo trên hệ thống ICP-OES để xác định chì trong tinh quặng antimon

Chì là một trong những thành phần cần kiểm soát trong tinh quặng antimon vì nó ảnh hưởng trực tiếp đến chất lượng cũng như giá trị thương mại của loại tinh quặng này. Hàm lượng Pb trong tinh quặng antimon thường chiếm khoảng 0,001-1,0 %. Phương pháp quang phổ phát xạ nguyên tử plasma cao tần cảm ứng ICP-OES là một trong những phương pháp được ứng dụng phổ biến trong xác định thành phần các nguyên tố kim loại trong đa dạng các nền mẫu quặng và tinh quặng. Ngoài độ ổn định và tính chính xác cao, ICP-OES còn cung cấp khoảng tuyến tính rộng và độ nhạy tốt đáp ứng yêu cầu trong xác định các nguyên tố có khoảng hàm lượng rộng như Pb trong tinh quặng antimon.
Trong phép xác định bằng ICP-OES, cường độ vạch phổ của các nguyên tố phụ thuộc vào các thông số sau: công suất máy phát cao tần RF, lưu lượng khí mang mẫu (khí nebulizer N), tốc độ bơm mẫu (P), vì vậy một nghiên cứu chuyên sâu để thiết lập các điều kiện hoạt động lý tưởng trên hệ thống thiết bị ICP-OES là quan trọng nhằm cung cấp một kết quả chính xác và tin cậy. Hiện nay, theo các tài liệu nghiên cứu khoa học tại Việt Nam đa phần đều ứng dụng phương pháp khảo sát đơn biến để tối ưu các thông số xác định trên hệ thống ICP-OES [1], [2]. Các thông số được tối ưu bằng cách lần lượt khảo sát từng yếu tố ảnh hưởng đến tín hiệu phân tích hay kết quả thử nghiệm trong khi cố định các yếu tố khác. Việc khảo sát điều kiện tối ưu theo phương pháp đơn biến thường đơn giản nhưng kết quả tối ưu thu được chỉ đúng khi các yếu tố khác đã cố định. Trong thực tế, khi một trong các yếu tố thay đổi thường dẫn đến điều kiện tìm được không còn là điều kiện tối ưu nữa mà đòi hỏi phải khảo sát biến thiên đồng thời các yếu tố. Ngoài ra, phương pháp đơn biến chỉ đánh giá được sự ảnh hưởng của các yếu tố riêng rẽ nhưng không đánh giá được sự ảnh hưởng tương hỗ giữa các yếu tố, đặc biệt trong phương pháp xác định trên hệ thống ICP-OES các thông số có liên quan chặt chẽ với nhau và cùng ảnh hưởng trực tiếp đến cường vạch phổ.
Xem toàn bộ bài viết TẠI ĐÂY.
Trung tâm phân tích - Viện Khoa học và Công nghệ Mỏ Luyện Kim