Khoa học công nghệ ngành Công Thương

Thứ bảy, 04/05/2024 | 20:18

Thứ bảy, 04/05/2024 | 20:18

Tin KHCN

Cập nhật lúc 11:50 ngày 04/05/2021

Khám phá giúp tăng độ bền của các thiết bị điện tử

Vật liệu sắt điện thường được sử dụng trong nhiều thiết bị, bao gồm bộ nhớ, tụ điện, thiết bị truyền động và cảm biến. Các thiết bị này thường được sử dụng trong cả dụng cụ dân dụng và công nghiệp, chẳng hạn như máy tính, thiết bị siêu âm y tế và thiết bị sonars dưới nước.

Ảnh minh họa. Nguồn: Internet
Qua thời gian, vật liệu sắt điện phải chịu tải trọng cơ và điện lặp đi lặp lại, dẫn đến suy giảm dần chức năng của chúng, từ đó dẫn đến hỏng hóc. Quá trình này được gọi là hiện tượng 'suy thoái sắt điện'.
Đó là nguyên nhân chính dẫn đến sự hỏng hóc của một loạt các thiết bị điện tử, trong đó các thiết bị điện tử bị loại bỏ là nguyên nhân hàng đầu gây ra rác thải điện tử. Trên thế giới, hàng chục triệu tấn thiết bị điện tử hỏng hóc được đưa đi chôn lấp mỗi năm.
Bằng cách sử dụng kính hiển vi điện tử tại chỗ tiên tiến, các nhà nghiên cứu của Trường Khoa học Hàng không Vũ trụ, Cơ khí và Cơ điện tử có thể quan sát hiện tượng suy thoái sắt điện. Kỹ thuật này sử dụng một kính hiển vi tiên tiến để 'nhìn', trong thời gian thực, ở cấp độ nguyên tử và kích thước nano.
Các nhà nghiên cứu hy vọng quan sát mới này sẽ giúp cung cấp thông tin tốt hơn về thiết kế trong tương lai của các thiết bị nano sắt điện. Nghiên cứu này được đăng trên tạp chí Nature Communications,
“Khám phá của chúng tôi là một bước đột phá khoa học quan trọng vì nó cho thấy một bức tranh rõ ràng về quá trình suy thoái sắt điện hiện diện ở quy mô nano”, đồng tác giả, Giáo sư Xiaozhou Liao, cũng từ Viện Nano Đại học Sydney, cho biết.
Tiến sĩ Qianwei Huang, trưởng nhóm nghiên cứu, cho biết: “Mặc dù từ lâu người ta đã biết rằng hiện tượng suy thoái sắt điện có thể làm giảm tuổi thọ của các thiết bị điện tử, nhưng cách nó xảy ra như thế nào vẫn chưa được hiểu rõ, do thiếu công nghệ phù hợp để quan sát. "
Đồng tác giả, Tiến sĩ Zibin Chen cho biết: "Chúng tôi hy vọng sẽ cung cấp thông tin tốt hơn về kỹ thuật của các thiết bị có tuổi thọ cao hơn."
Link: https://www.sciencedaily.com/releases/2021/04/210409104503.htm
Hà Trần (Theo ScienceDaily)
.
lên đầu trang